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Platinas manuales del eje Z - guía de rodillos cruzados, alta resolución (B30)

Platinas manuales del eje Z - guía de rodillos cruzados, alta resolución (B30)
  • Descuento por volumen

Una etapa de guía de rodillos cruzados de alta resolución (eje Z). [características] · El funcionamiento del micrómetro diferencial es posible con 2 micrómetros
· El ajuste fino es posible dentro de ±0,3 mm desde la posición movida por movimiento grueso
[Aplicaciones] · ajuste de cámaras, microscopios, sensores y componentes ópticos
· Posicionamiento de procesos de producción, montaje e inspección relacionados con semiconductores e instrumentos de medida.

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Número de Parte
B30-60LK
B30-60RK
B30-80
Número de ParteCantidad mínima de compraDescuento por volumenDías para enviar RoHSViajes (rango) Tamaño de la mesa (longitud) L (rango)
(mm)
Tamaño de la mesa (ancho) W (rango)
(mm)
Tamaño de la mesa (longitud) L
(mm)
Tamaño de la mesa (ancho) W
(mm)
Carga permisible
(N)
Carrera (distancia Z)
(mm)
Rigidez de momento (Pitching)
("/ N • cm)
Rigidez de momento (rodando)
("/ N • cm)
Invertido
1 Pieza(s)Disponible

11 Días o más

10hasta ± 10 mm41~6041~60606019.6±6.50.110.11Estándar
1 Pieza(s)Disponible

11 Días o más

10hasta ± 10 mm41~6041~60606019.6±6.50.110.11Derecha e izquierda
1 Pieza(s)Disponible

11 Días o más

10± 10 a 30 mm61~9061~90808029.4±12.50.140.04Estándar

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  1. 1

Información básica

Orientación de la superficie del escenario Eje Z Capacidad de carga (rango)(N) 5~30 Método de alimentación Cabeza micrométrica
Mecanismo rector Rodillo cruzado Material de mesa Aluminio Tratamiento de superficie de mesa Anodizado negro
Superficie de la etapa del eje Z Vertical Orificio pasante (orificio central de la mesa) Ninguno Rectitud de la mesa(µm) 2
Rigidez de momento (bostezo)("/ N • cm) 0.1 Posición de la perilla de alimentación Centro Abrazadera Estándar
Método de alimentación (tipo de micrómetro) Alimentos gruesos / finos Paso de alimentación(mm) Alimentación gruesa 0.5 mm, alimentación fina 0.025 mm

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