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Una etapa de guía de rodillos cruzados de alta resolución (eje Z). [características] · El funcionamiento del micrómetro diferencial es posible con 2 micrómetros
· El ajuste fino es posible dentro de ±0,3 mm desde la posición movida por movimiento grueso
[Aplicaciones] · ajuste de cámaras, microscopios, sensores y componentes ópticos
· Posicionamiento de procesos de producción, montaje e inspección relacionados con semiconductores e instrumentos de medida.
Número de Parte
Se muestra el número de parte configurado
B30-60LK
Número de Parte |
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B30-60LK |
Cargando…
Orientación de la superficie del escenario | Eje Z | Capacidad de carga (rango)(N) | 5~30 | Método de alimentación | Cabeza micrométrica |
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Mecanismo rector | Rodillo cruzado | Material de mesa | Aluminio | Tratamiento de superficie de mesa | Anodizado negro |
Superficie de la etapa del eje Z | Vertical | Orificio pasante (orificio central de la mesa) | Ninguno | Rectitud de la mesa(µm) | 2 |
Rigidez de momento (bostezo)("/ N • cm) | 0.1 | Posición de la perilla de alimentación | Centro | Abrazadera | Estándar |
Método de alimentación (tipo de micrómetro) | Alimentos gruesos / finos | Paso de alimentación(mm) | Alimentación gruesa 0.5 mm, alimentación fina 0.025 mm |
Revise el tipo, las dimensiones y las especificaciones del artículo B30-60LK de la serie Platinas manuales del eje Z - guía de rodillos cruzados, alta resolución (B30).
Número de Parte |
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B30-60RK |
B30-80 |
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