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Una etapa de guía de rodillos cruzados de alta resolución (eje X).
[Características]
· El funcionamiento del micrómetro diferencial es posible con 2 micrómetros
· El ajuste fino es posible dentro de ±0,3 mm desde la posición movida por movimiento grueso
[Aplicaciones]
· Ajuste de cámaras, microscopios, sensores y componentes ópticos.
· Posicionamiento de procesos de producción, montaje e inspección relacionados con semiconductores e instrumentos de medida.
Número de Parte
Se muestra el número de parte configurado
B10-60LN
Número de Parte |
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B10-60LN |
Cargando…
Altura total (rango)(mm) | 25.1~30 | Método de alimentación | Cabeza micrométrica | Mecanismo rector | Rodillo cruzado |
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Material de mesa | Aluminio | Tratamiento de superficie de mesa | Anodizado negro | Tamaño de la mesa (espesor) H(mm) | 30 |
Tipo | Etapas del eje X | Rectitud de la mesa(µm) | 2 | Paralelismo de mesa(µm) | 30 |
Rigidez de momento (bostezo)("/ N • cm) | 0.1 | Posición de la perilla de alimentación | Centro | Abrazadera | Estándar |
Invertido | Estándar | A través del orificio | Ninguno | Método de alimentación (tipo de micrómetro) | Estándar |
Paso de alimentación(mm) | 0,25 mm |
Revise el tipo, las dimensiones y las especificaciones del artículo B10-60LN de la serie Platinas manuales del eje X - guía de rodillos cruzados, alta resolución, B10.
Número de Parte |
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B10-80 |
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